Stanowisko do wielopunktowych pomiarów parametrów elektrycznych układów o stałych rozłożonych / Jerzy Maceluch.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 2001.Tematy: Rodzaj/forma:
W: Metrologia u progu Trzeciego Millenium. Krajowy Kongres Metrologii. KKM 2001. Materiały kongresu, Warszawa, 24-27 czerwca 2001. - Warszawa : BEL Studio, 2001. - s. 623-626Streszczenie: W pracy obok parametrów i właściwości stanowiska badawczego do wielopunktowych pomiarów parametrów elektrycznych układów o stałych rozłożonych, przedstawiono również możliwości zastosowania układu do wielopunktowych badań modeli oporowych wykorzystywanych w symulacyjnych badaniach elektro-tomograficznych.
Brak egzemplarzy dla tego rekordu
sprawozdanie jednostki (Informator o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2001 roku Wydziału Elektroniki).
W pracy obok parametrów i właściwości stanowiska badawczego do wielopunktowych pomiarów parametrów elektrycznych układów o stałych rozłożonych, przedstawiono również możliwości zastosowania układu do wielopunktowych badań modeli oporowych wykorzystywanych w symulacyjnych badaniach elektro-tomograficznych.