Quality investigation of joint of bipolar transistor chip and lead frame by thermal wave method / Zbigniew Suszyński.
Rodzaj materiału:
ArtykułJęzyk: angielski Szczegóły wydania: 1997.
W: IEE Proc. Circuits Devices Syst. - 1997, Vol. 144, nr 2, s. 78-80
Brak egzemplarzy dla tego rekordu
Dane z bibliografii załącznikowej.
sprawozdanie jednostki (Informator o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2001 roku Wydziału Elektroniki).