Metoda i aparatura optyczno-elektroniczna do automatycznej kontroli struktury geometrycznej powierzchni w procesach obróbki mechanicznej. Etap 2, Budowa stanowiska badawczego do dyskretnego pomiaru indykatrysy rozproszenia oraz przeprowadzenie badań wstępnych / Tadeusz Karpiński, Jerzy Giedrys, Tadeusz Kochaniewicz, Czesław łukianowicz, Tatiana Łukianowicz, Janusz Raniszewski, Adam Rudzik, Marek Wardecki.
Rodzaj materiału:
TekstSzczegóły wydania: Koszalin, 1987.Tematy: Streszczenie: W pracy podano: opracowanie i uruchomienie oprogramowania do wyznaczania charakterystyk i parametrów nierówności powierzchni na podstawie pomiarów stykowych oraz promieniowania rozproszonego, parametrów i charakterystyk indykatrysy rozproszenia, zbudowano stanowisko badawcze do dyskretnego pomiaru indykatrysy rozproszenia, wykonano badania doświadczalne rozpraszania światła przez powierzchnie chropowate.
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Sygnatura | Status | Termin zwrotu | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
Materiały nieopublikowane
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | NB-196/II (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
W pracy podano: opracowanie i uruchomienie oprogramowania do wyznaczania charakterystyk i parametrów nierówności powierzchni na podstawie pomiarów stykowych oraz promieniowania rozproszonego, parametrów i charakterystyk indykatrysy rozproszenia, zbudowano stanowisko badawcze do dyskretnego pomiaru indykatrysy rozproszenia, wykonano badania doświadczalne rozpraszania światła przez powierzchnie chropowate.