Aparatura do oceny mikrogeometrii powierzchni na podstawie kątowego rozkładu natężenia światła rozproszonego / Czesław Łukianowicz.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 1992.Tematy:
W: Mechanik. - R. 65, 1992, nr 1, s. 31-34Streszczenie: Aparatura kontrolno-pomiarowa przeznaczona do oceny mikrogeometrii powierzchni na podstawie kątowego rozkładu natężenia światła rozproszonego. Podstawowe dane techniczne i przykłady zastosowania.
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Sygnatura | Status | Termin zwrotu | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 0256 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
Aparatura kontrolno-pomiarowa przeznaczona do oceny mikrogeometrii powierzchni na podstawie kątowego rozkładu natężenia światła rozproszonego. Podstawowe dane techniczne i przykłady zastosowania.
