Skomputeryzowane stanowisko do pomiaru i analizy profilu powierzchni / Tadeusz Karpiński, Czesław Łukianowicz, Tatiana Łukianowicz.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 2000.Tematy:
W: Pomiary Automatyka Kontrola. - 2000, nr 5, s. 27-30Streszczenie: W artykule przedstawiono skomputeryzowane stanowisko do pomiaru i analizy profilu nierówności powierzchni. Zawiera ono profilometr, komputer, system akwizycji sygnału pomiarowego oraz oprogramowanie umożliwiające analizę i pomiary profilu powierzchni. Oprogramowanie napisane w środowisku programowym Borland Delphi pozwala na pracę w systemie MS Windows. Stanowisko jest rozbudowane w celu analizy topografii powierzchni.
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 0275 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
W artykule przedstawiono skomputeryzowane stanowisko do pomiaru i analizy profilu nierówności powierzchni. Zawiera ono profilometr, komputer, system akwizycji sygnału pomiarowego oraz oprogramowanie umożliwiające analizę i pomiary profilu powierzchni. Oprogramowanie napisane w środowisku programowym Borland Delphi pozwala na pracę w systemie MS Windows. Stanowisko jest rozbudowane w celu analizy topografii powierzchni.