Monitorowanie jakości powierzchni obrobionej przy zastosowaniu środowiska LabView / Anna Zawada-Tomkiewicz, Dariusz Tomkiewicz.
Rodzaj materiału:
ArtykułTematy:
W: Pomiary Automatyka Kontrola. - 2007, nr 8, s. 79-82Streszczenie: W pracy zaprezentowano system monitorowania powierzchni obrobionej bazujący na obrazie tej powierzchni. System składał się z układu wizyjnego, komputera przetwarzającego dane pomiarowe i terminala. Przetwarzanie danych realizowane było w środowisku LabView. Układ umożliwiał w krótkim etapie trenowania przewidywanie stanów przyszłych wartości parametru Ra chropowatości powierzchni i sprawdzanie, czy na powierzchni nie zachodzą nagłe zmiany nieliniowe.
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 0275 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
W pracy zaprezentowano system monitorowania powierzchni obrobionej bazujący na obrazie tej powierzchni. System składał się z układu wizyjnego, komputera przetwarzającego dane pomiarowe i terminala. Przetwarzanie danych realizowane było w środowisku LabView. Układ umożliwiał w krótkim etapie trenowania przewidywanie stanów przyszłych wartości parametru Ra chropowatości powierzchni i sprawdzanie, czy na powierzchni nie zachodzą nagłe zmiany nieliniowe.