Wybrane problemy w pomiarach nierówności, ocenie chropowatości i klasyfikacji topografii powierzchni na podstawie ich cech stereometrycznych / Wojciech Kacalak, Dariusz Lipiński, Błażej Bałasz, Tomasz Królikowski, Artur Bernat, Robert Tomkowski, Filip Szafraniec.
Rodzaj materiału:
ArtykułPraca zawiera: Tematy: Rodzaj/forma:
W: Tendencje rozwoju metrologii i aparatury naukowej : materiały pokonferencyjne konferencji naukowej / [red. nauk. Czesław Łukianowicz]. - Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2010. - s. 7-64Streszczenie: Przedstawiono analizy wybranych problemów w pomiarach struktury geometrycznej powierzchni ze szczególnym uwzględnieniem powierzchni po obróbce ściernej i erozyjnej. Zamieszczono wyniki badań symulacyjnych dotyczących modelowania topografii powierzchni narzędzi ściernych oraz powierzchni obrobionych. Zaprezentowano również różne metody rekonstrukcji powierzchni na podstawie informacji o dwóch profilach rzeczywistych powierzchni rekonstruowanej oraz obrazów 2D z zastosowaniem nowych metod i algorytmów stereoskopii fotometrycznej.
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Rozdział
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 96198 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
Przedstawiono analizy wybranych problemów w pomiarach struktury geometrycznej powierzchni ze szczególnym uwzględnieniem powierzchni po obróbce ściernej i erozyjnej. Zamieszczono wyniki badań symulacyjnych dotyczących modelowania topografii powierzchni narzędzi ściernych oraz powierzchni obrobionych. Zaprezentowano również różne metody rekonstrukcji powierzchni na podstawie informacji o dwóch profilach rzeczywistych powierzchni rekonstruowanej oraz obrazów 2D z zastosowaniem nowych metod i algorytmów stereoskopii fotometrycznej.