Analiza topografii powierzchni wzorców kontrolnych stosowanych do sprawdzania profilometrów stykowych / Czesław Łukianowicz, Rafał Pawlikowski.
Rodzaj materiału:
ArtykułTematy:
W: Postępy w metrologii współrzędnościowej : praca zbiorowa / pod red. Jerzego Sładka i Władysława Jakubca. - Bielsko-Biała : Wydaw. Akademii Techniczno-Humanistycznej w Bielsku-Białej, 2010. - s. 187-194Streszczenie: W pracy przedstawiono wyniki topografii powierzchni wzorców kontrolnych stosowanych do sprawdzania profilometrów stykowych. Pomiary przeprowadzono za pomocą profilometru stykowego i mikroskopu interferencyjnego wykorzystującego korelację koherencji. Metoda ta charakteryzuje się wysoką dokładnością pomiaru topografii powierzchni, znacznym zakresem pomiarowym oraz krótkim czasem wykonania pomiaru. Z przeprowadzonych badań wynika, że może być ona przystosowana do oceny i analizy topografii wzorców kontrolnych przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych.
Brak egzemplarzy dla tego rekordu
Dane z autopsji.
W pracy przedstawiono wyniki topografii powierzchni wzorców kontrolnych stosowanych do sprawdzania profilometrów stykowych. Pomiary przeprowadzono za pomocą profilometru stykowego i mikroskopu interferencyjnego wykorzystującego korelację koherencji. Metoda ta charakteryzuje się wysoką dokładnością pomiaru topografii powierzchni, znacznym zakresem pomiarowym oraz krótkim czasem wykonania pomiaru. Z przeprowadzonych badań wynika, że może być ona przystosowana do oceny i analizy topografii wzorców kontrolnych przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych.