Pomiary przejściowych charakterystyk termicznych elementów półprzewodnikowych z zewnętrznym źródłem mocy / Włodzimierz Janke, Jarosław Kraśniewski, Maciej Oleksy, Jerzy Mizeraczyk, Marek Kocik.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 2003.Tematy: Rodzaj/forma:
W: Druga Krajowa Konferencja Elektroniki : materiały konferencji. T. 2/2. - Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003. - s. 571-576Streszczenie: W pracy zaproponowano metodykę oceny właściwości cieplnych konstrukcji obudów elementów elektronicznych opartą na doprowadzeniu mocy promieniowania lasera do powierzchni obudowy lub wyprowadzeń i rejestracji temperatury wnętrza elementu za pośrednictwem elektrycznego parametru termoczułego. Przedstawiono opracowane stanowisko badawcze, a także wyniki pomiarów dla elementów półprzewodnikowych w różnych obudowach. Pomiary przeprowadzono dla różnych wartości mocy promieniowania laserem zarówno w fazie grzania jak i chłodzenia elementu.
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 67789 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
W pracy zaproponowano metodykę oceny właściwości cieplnych konstrukcji obudów elementów elektronicznych opartą na doprowadzeniu mocy promieniowania lasera do powierzchni obudowy lub wyprowadzeń i rejestracji temperatury wnętrza elementu za pośrednictwem elektrycznego parametru termoczułego. Przedstawiono opracowane stanowisko badawcze, a także wyniki pomiarów dla elementów półprzewodnikowych w różnych obudowach. Pomiary przeprowadzono dla różnych wartości mocy promieniowania laserem zarówno w fazie grzania jak i chłodzenia elementu.