Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Comparative investigations of substrate noise caused by voltage-mode and current-mode gates / Piotr Pawłowski, Andrzej Guziński.

Autor:

PAWŁOWSKI, Piotr. Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, Katedra Systemów Elektronicznych, 1996 -

Współtwórca(-y):

GUZIŃSKI, Andrzej. Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, Katedra Teorii Obwodów i Układów Elektronicznych, 1996 - 2001

Rodzaj materiału:

ArtykułJęzyk: angielski Praca zawiera:

IEEE International Symposium on Circuits and Systems ISCAS 2000 (2000 ; Genewa, Szwajcaria). ISCAS 2000

Rodzaj/forma:

Materiały konferencyjne.

W: IEEE International Symposium on Circuits and Systems. - Genewa, 2000. - s. 561-564Streszczenie: This paper presents main results of comparison of signals on the input and output of classical voltage-mode and current-mode digital gates and connects their properties with simultaneously observed waveforms on output of analog circuits located on the same silicon substrate.

Egzemplarze ( 0 )
Uwagi ( 2 )

Brak egzemplarzy dla tego rekordu

Dane z Informatora o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2000 roku Wydziału Elektroniki.

This paper presents main results of comparison of signals on the input and output of classical voltage-mode and current-mode digital gates and connects their properties with simultaneously observed waveforms on output of analog circuits located on the same silicon substrate.