Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Wpływ temperatury otoczenia na charakterystyki termiczne tranzystorów mikrofalowych / Włodzimierz Janke, Jarosław Kraśniewski, Maciej Oleksy.

Autor:

JANKE, Włodzimierz. Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Systemów Elektronicznych, 1996 -

Współtwórca(-y):

KRAŚNIEWSKI, Jarosław. Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Systemów Elektronicznych, 1997 -
OLEKSY, Maciej. Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Systemów Elektronicznych, 2003 -

Rodzaj materiału:

ArtykułPraca zawiera:

Krajowa Konferencja Elektroniki (5 ; 2006 ; Darłówko Wschodnie, Polska). KKE'2006

Tematy:

Rodzaj/forma:

Materiały konferencyjne.

W: Piąta Krajowa Konferencja Elektroniki : materiały konferencji. T. 1/2 / [kom. red. Włodzimierz Janke - przewodn., Maciej Bączek, Stefan Łuczak]. - Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006. - s. 261-266Streszczenie: Przedstawiono pomiary przejściowych przebiegów temperatury wnętrza tranzystorów mikrofalowych dla wewnętrznego pobudzenia mocą w różnych temperaturach otoczenia. Przedstawiono stanowisko badawcze i przykładowe wyniki pomiarów.

Egzemplarze ( 1 )
Uwagi ( 2 )

Egzemplarze
Okładka	Typ dokumentu	Obecna biblioteka	Biblioteka macierzysta	Kolekcja	Lokalizacja	Sygnatura	Materiały określone	Nr tomu/części	URL	Numer kopii	Status	Uwagi	Termin zwrotu	Kod kreskowy	Zamówienia	Kolejka rezerwacji egzemplarzy	Kursy
	Rozdział	Bibliografia Prac Pracowników - BPK				79608 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej))					Nie można wypożyczyć

Dane z autopsji.

Przedstawiono pomiary przejściowych przebiegów temperatury wnętrza tranzystorów mikrofalowych dla wewnętrznego pobudzenia mocą w różnych temperaturach otoczenia. Przedstawiono stanowisko badawcze i przykładowe wyniki pomiarów.