Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Surface roughness measurements by photometric method / Tadeusz Karpiński, Czesław Łukianowicz.

Autor:

KARPIŃSKI, Tadeusz. Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Instytut Techniki Wytwarzania, Zakład Technologii Budowy Maszyn, 1970 - 1996

Współtwórca(-y):

ŁUKIANOWICZ, Czesław. Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Instytut Techniki Wytwarzania, Zakład Technologii Budowy Maszyn, 1973 - 1996

Rodzaj materiału:

ArtykułJęzyk: angielski Szczegóły wydania: 1977. W: Annals of the CIRP. Manufacturing Technology. - 1977, Vol. 25/1, s. 371-374Streszczenie: In this paper the teoretical bases of the photometric method dealing with measuring of the surface roughness are presented. Equations have been elaborated deascribing dependences occuring between photometric values and the surface roughness, the equations characterizing radiation reflected from the examined surface.

Egzemplarze ( 1 )
Uwagi ( 2 )

Egzemplarze
Okładka	Typ dokumentu	Obecna biblioteka	Biblioteka macierzysta	Kolekcja	Lokalizacja	Sygnatura	Materiały określone	Nr tomu/części	URL	Numer kopii	Status	Uwagi	Termin zwrotu	Kod kreskowy	Zamówienia	Kolejka rezerwacji egzemplarzy	Kursy
	Artykuł	Bibliografia Prac Pracowników - BPK				01088 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej))					Nie można wypożyczyć

Dane z autopsji.

In this paper the teoretical bases of the photometric method dealing with measuring of the surface roughness are presented. Equations have been elaborated deascribing dependences occuring between photometric values and the surface roughness, the equations characterizing radiation reflected from the examined surface.