Application of the surface photovoltage method for determination of the diffusion length in imperfect silicon / Aleksy Patrin.
Rodzaj materiału:
ArtykułJęzyk: angielski Szczegóły wydania: 1997.Rodzaj/forma:
W: Proc. ECASIA. - Chichester : Wiley & Sons, 1997. - s. 575-579
Brak egzemplarzy dla tego rekordu
dane z Informatora o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2002 roku Wydziału Elektroniki.
