Fast measurements of bipolar transistor thermal resistanceby D.C. method / Włodzimierz Janke, A. Jurewicz.
Rodzaj materiału:
ArtykułJęzyk: angielski Praca zawiera: Rodzaj/forma:
W: Workshop Microtechnology and Thermal Problems in Electronics Microtherm'98 : Zakopane September 21-27 1998 : The Seminar Thermic'98 / [ed. M. Langer, Z. Lisik, J. Podgórski] Łódź : Institute of Electronics Technical University of Łódź, 1998. -
Brak egzemplarzy dla tego rekordu
sprawozdanie jednostki (Informator o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2002 roku Wydziału Elektroniki).
