System spektroskopii elipsometrycznej w zastosowaniu do badań własności szerokopasmowych materiałów optoelektronicznych : rozprawa doktorska /
Dorywalski, Krzysztof.
System spektroskopii elipsometrycznej w zastosowaniu do badań własności szerokopasmowych materiałów optoelektronicznych : rozprawa doktorska / Krzysztof Dorywalski ; Politechnika Koszalińska. Wydział Elektroniki i Informatyki. - Koszalin : [s.n.], 2014. - 130 stron : Ilustracje ; 30 cm + 1 dysk optyczny (CD ROM) ; 2 recenzje.
Spectroscopic ellipsometry system in application tothe properties studies of wide-bandgap optoelectronic materials
Rozprawa doktorska. Politechnika Koszalińska. 2014.
Bibliografia na stronach 105-116.
Dostępne online wszystkim użytkownikom bez ograniczeń, bez możliwości sporządzania kopii.
Praca poświęcona implementacji techniki spektroskopii elipsometrycznej w zakresie widmowym światła widzialnego, nadfioletu i nadfioletu próżniowego VIS-UV-VUV do badań własności wybranych materiałów dla optoelektroniki.
Streszczenie w języku polskim i angielskim.
Elipsometria Spektroskopia elipsometryczna System elipsometryczny Promieniowanie synchrotronowe Własności optyczne Materiały szerokopasmowe
Rozprawa doktorska
Inżynieria i technika
621.38 537.533
System spektroskopii elipsometrycznej w zastosowaniu do badań własności szerokopasmowych materiałów optoelektronicznych : rozprawa doktorska / Krzysztof Dorywalski ; Politechnika Koszalińska. Wydział Elektroniki i Informatyki. - Koszalin : [s.n.], 2014. - 130 stron : Ilustracje ; 30 cm + 1 dysk optyczny (CD ROM) ; 2 recenzje.
Spectroscopic ellipsometry system in application tothe properties studies of wide-bandgap optoelectronic materials
Rozprawa doktorska. Politechnika Koszalińska. 2014.
Bibliografia na stronach 105-116.
Dostępne online wszystkim użytkownikom bez ograniczeń, bez możliwości sporządzania kopii.
Praca poświęcona implementacji techniki spektroskopii elipsometrycznej w zakresie widmowym światła widzialnego, nadfioletu i nadfioletu próżniowego VIS-UV-VUV do badań własności wybranych materiałów dla optoelektroniki.
Streszczenie w języku polskim i angielskim.
Elipsometria Spektroskopia elipsometryczna System elipsometryczny Promieniowanie synchrotronowe Własności optyczne Materiały szerokopasmowe
Rozprawa doktorska
Inżynieria i technika
621.38 537.533