Zastosowanie metody fotometrycznej do analizy struktury geometrycznej powierzchni : praca doktorska /
Łukianowicz, Czesław
Zastosowanie metody fotometrycznej do analizy struktury geometrycznej powierzchni : praca doktorska / Czesław Łukianowicz ; Politechnika Wrocławska. Instytut Budowy Maszyn. - Wrocław : [s.n.], 1976. - 124 strony : ilustracje ; 30 cm + załącznik : 72, [49] stron : rysunki.
Druk jednostronny.
Rozprawa doktorska. Politechnika Wrocławska. 1976.
Bibliografia na stronach 116-120.
Praca zawiera : analizę teoretyczną rozproszenia równoległej wiązki światła przez statystycznie nierówną powierzchnię płaską, wyznaczenie zależności między mocą promienistą odbitą od powierzchni w określonych kierunkach, a probabilistycznymi charakterystykami struktury geometrycznej powierzchni. Wyznaczono zależność funkcyjną między połyskiem powierzchni i średnim standardowym odchyleniem pochodnej profilu w przypadku normalnego rozkładu pochodnej. Określono wpływ kątów aperturowych ograniczających obszary, w których dokonuje się pomiarów mocy promienistej na zakres i czułość metody fotometrycznej.
Załącznik do pracy doktorskiej zawiera : wyznaczanie tangensów półkątów aperturowych, obliczenia numeryczne równania, schematy urządzeń elektronicznych zastosowanych w konstrukcji stanowisk badawczych, obliczenia numeryczne parametrów rozkładu pochodnej profilu powierzchni.
Fotometria.
Inżynieria powierzchni
Analiza numeryczna Struktura geometryczna powierzchni
Rozprawa doktorska
Inżynieria i technika
621.791/.795 535.24
Zastosowanie metody fotometrycznej do analizy struktury geometrycznej powierzchni : praca doktorska / Czesław Łukianowicz ; Politechnika Wrocławska. Instytut Budowy Maszyn. - Wrocław : [s.n.], 1976. - 124 strony : ilustracje ; 30 cm + załącznik : 72, [49] stron : rysunki.
Druk jednostronny.
Rozprawa doktorska. Politechnika Wrocławska. 1976.
Bibliografia na stronach 116-120.
Praca zawiera : analizę teoretyczną rozproszenia równoległej wiązki światła przez statystycznie nierówną powierzchnię płaską, wyznaczenie zależności między mocą promienistą odbitą od powierzchni w określonych kierunkach, a probabilistycznymi charakterystykami struktury geometrycznej powierzchni. Wyznaczono zależność funkcyjną między połyskiem powierzchni i średnim standardowym odchyleniem pochodnej profilu w przypadku normalnego rozkładu pochodnej. Określono wpływ kątów aperturowych ograniczających obszary, w których dokonuje się pomiarów mocy promienistej na zakres i czułość metody fotometrycznej.
Załącznik do pracy doktorskiej zawiera : wyznaczanie tangensów półkątów aperturowych, obliczenia numeryczne równania, schematy urządzeń elektronicznych zastosowanych w konstrukcji stanowisk badawczych, obliczenia numeryczne parametrów rozkładu pochodnej profilu powierzchni.
Fotometria.
Inżynieria powierzchni
Analiza numeryczna Struktura geometryczna powierzchni
Rozprawa doktorska
Inżynieria i technika
621.791/.795 535.24