Pomiary i modelowanie stereometrii ziaren ściernych /
TOMKOWSKA, Anna. Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Mechaniki Precyzyjnej
Pomiary i modelowanie stereometrii ziaren ściernych / Anna Tomkowska, Błażej Bałasz.
Dane z autopsji.
W artykule opisano nowe metody generowania powierzchni ziarna ściernego. Szczegółowo opisano metodę naśladującą naturalne procesy kruszenia ziaren, jako metodę najbardziej zgodną z procesami technologicznymi i łatwą w doborze parametrów stereometrycznych wierzchołków ziaren oraz ich parametrów. Opracowane modele pozwalają opisywać mikrotopografię samego ziarna oraz ukształtowanie jego wierzchołka.
Szlifowanie - narzędzia i maszyny.
621.921
Pomiary i modelowanie stereometrii ziaren ściernych / Anna Tomkowska, Błażej Bałasz.
Dane z autopsji.
W artykule opisano nowe metody generowania powierzchni ziarna ściernego. Szczegółowo opisano metodę naśladującą naturalne procesy kruszenia ziaren, jako metodę najbardziej zgodną z procesami technologicznymi i łatwą w doborze parametrów stereometrycznych wierzchołków ziaren oraz ich parametrów. Opracowane modele pozwalają opisywać mikrotopografię samego ziarna oraz ukształtowanie jego wierzchołka.
Szlifowanie - narzędzia i maszyny.
621.921