Zależności między mikrogeometrią powierzchni i parametrami światła rozproszonego przy pomiarach fotometrycznych /
KARPIŃSKI, Tadeusz. Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji 1970 - 1996.
Zależności między mikrogeometrią powierzchni i parametrami światła rozproszonego przy pomiarach fotometrycznych / Tadeusz Karpiński, Piotr Kochaniewicz, Tadeusz Kochaniewicz. - 1995.
Dane z autopsji.
W niniejszej pracy przedstawiono wyniki wpływu parametrów chropowatości powierzchni (kształtu i horyzontalnych) na zmiany parametrów fotometrycznych. Analizę mikronierówności powierzchni przeprowadzono posługując się szerokością połówkową, połyskiem, wariacją rozkładu natężenia światła rozproszonego, parametrem Pd, średnią odległością lokalnych wierzchołków profilu, średnim arytmetycznym pochyleniem profilu, średnim promieniem wierzchołków i średnią wysokością występowania wierzchołków.
Fotometria.
Inżynieria powierzchni
535.24
Zależności między mikrogeometrią powierzchni i parametrami światła rozproszonego przy pomiarach fotometrycznych / Tadeusz Karpiński, Piotr Kochaniewicz, Tadeusz Kochaniewicz. - 1995.
Dane z autopsji.
W niniejszej pracy przedstawiono wyniki wpływu parametrów chropowatości powierzchni (kształtu i horyzontalnych) na zmiany parametrów fotometrycznych. Analizę mikronierówności powierzchni przeprowadzono posługując się szerokością połówkową, połyskiem, wariacją rozkładu natężenia światła rozproszonego, parametrem Pd, średnią odległością lokalnych wierzchołków profilu, średnim arytmetycznym pochyleniem profilu, średnim promieniem wierzchołków i średnią wysokością występowania wierzchołków.
Fotometria.
Inżynieria powierzchni
535.24