Podstawy pomiarów nierówności powierzchni metodami rozpraszania światła /
ŁUKIANOWICZ, Czesław. Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji 1996 - .
Podstawy pomiarów nierówności powierzchni metodami rozpraszania światła / Czesław Łukianowicz.
Principles of surface roughness measurements by light scattering methods
Dane z autopsji.
W artykule przedstawiono podstawy pomiarów nierówności powierzchni metodami rozpraszania światła. Metody te są stosowane do pomiarów precyzyjnie obrobionych powierzchni w zautomatyzowanych procesach produkcyjnych. Rozpatrzono także czynniki wpływające na przestrzenny kształt rozkładu natężenia światła rozproszonego oraz problem odwzorowania nierówności powierzchni na podstawie pomiarów pola dyfrakcyjnego.
Powierzchnia - pomiary.--pomiary.
Chropowatość
Materiały konferencyjne.
621.791/.795
Podstawy pomiarów nierówności powierzchni metodami rozpraszania światła / Czesław Łukianowicz.
Principles of surface roughness measurements by light scattering methods
Dane z autopsji.
W artykule przedstawiono podstawy pomiarów nierówności powierzchni metodami rozpraszania światła. Metody te są stosowane do pomiarów precyzyjnie obrobionych powierzchni w zautomatyzowanych procesach produkcyjnych. Rozpatrzono także czynniki wpływające na przestrzenny kształt rozkładu natężenia światła rozproszonego oraz problem odwzorowania nierówności powierzchni na podstawie pomiarów pola dyfrakcyjnego.
Powierzchnia - pomiary.--pomiary.
Chropowatość
Materiały konferencyjne.
621.791/.795