Optoelektroniczna głowica pomiarowa przeznaczona do jednoczesnej oceny nierówności powierzchni i wymiaru geometrycznego = Optoelectronic measuring head for simultaneous evaluation of surface irregularities and geometrical dimension /
KAPŁONEK, Wojciech. Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji 2008 - .
Optoelektroniczna głowica pomiarowa przeznaczona do jednoczesnej oceny nierówności powierzchni i wymiaru geometrycznego = Optoelectronic measuring head for simultaneous evaluation of surface irregularities and geometrical dimension / Wojciech Kapłonek. - 2006.
Dane z autopsji.
W artykule przedstawiono krótkie podsumowanie prac prowadzonych przez autora nad stworzeniem optoelektronicznej głowicy pomiarowej przeznaczonej do jednoczesnej oceny nierówności powierzchni i wymiaru geometrycznego. Krótko opisano wykorzystywane metody optyczne, przedstawiono ideę umożliwiającą jednoczesny pomiar dwoma metodami, pokazano projekt optoelektronicznej głowicy pomiarowej wykonany w środowisku CAD/CAM/CAE SolidWorks oraz omówiono kierunki dalszych badań.
Optoelektronika.
Inżynieria powierzchni
Materiały konferencyjne.
621.38 537.533
Optoelektroniczna głowica pomiarowa przeznaczona do jednoczesnej oceny nierówności powierzchni i wymiaru geometrycznego = Optoelectronic measuring head for simultaneous evaluation of surface irregularities and geometrical dimension / Wojciech Kapłonek. - 2006.
Dane z autopsji.
W artykule przedstawiono krótkie podsumowanie prac prowadzonych przez autora nad stworzeniem optoelektronicznej głowicy pomiarowej przeznaczonej do jednoczesnej oceny nierówności powierzchni i wymiaru geometrycznego. Krótko opisano wykorzystywane metody optyczne, przedstawiono ideę umożliwiającą jednoczesny pomiar dwoma metodami, pokazano projekt optoelektronicznej głowicy pomiarowej wykonany w środowisku CAD/CAM/CAE SolidWorks oraz omówiono kierunki dalszych badań.
Optoelektronika.
Inżynieria powierzchni
Materiały konferencyjne.
621.38 537.533