Pomiary i analiza topografii powierzchni wzorców kontrolnych typu C przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych /
KAPŁONEK, Wojciech. Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji 2008 - .
Pomiary i analiza topografii powierzchni wzorców kontrolnych typu C przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych / Wojciech Kapłonek, Czesław Łukianowicz, Krzysztof Nadolny, Rafał Pawlikowski.
Measurements and analysis of surface topography of calibration specimens of type C for stylus profilometers
Dane z autopsji.
W pracy przedstawiono zagadnienia związane z analizą topografii powierzchni wzorców kontrolnych typu C (w odmianach C2 i C3) przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych. Wykazano iż wzorce tego typu mogą być sprawdzane za pomocą aparatury pomiarowej wykorzystującej nowoczesne metody optyczne - koherencyjną interferometrię korelacyjną oraz konfokalną laserową mikroskopię skaningową.
Powierzchnia.
Pomiary
621.791/.795
Pomiary i analiza topografii powierzchni wzorców kontrolnych typu C przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych / Wojciech Kapłonek, Czesław Łukianowicz, Krzysztof Nadolny, Rafał Pawlikowski.
Measurements and analysis of surface topography of calibration specimens of type C for stylus profilometers
Dane z autopsji.
W pracy przedstawiono zagadnienia związane z analizą topografii powierzchni wzorców kontrolnych typu C (w odmianach C2 i C3) przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych. Wykazano iż wzorce tego typu mogą być sprawdzane za pomocą aparatury pomiarowej wykorzystującej nowoczesne metody optyczne - koherencyjną interferometrię korelacyjną oraz konfokalną laserową mikroskopię skaningową.
Powierzchnia.
Pomiary
621.791/.795