Optyczna metoda określania zawartości monokryształów węglika krzemu w ścierniwie /
ŁUKIANOWICZ, Tatiana. Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Instytut Budowy Maszyn, Zakład Technologii Maszyn 1973 - 1996.
Optyczna metoda określania zawartości monokryształów węglika krzemu w ścierniwie / Tatiana Łukianowicz, Mirosław Wiśniewski. - 1981.
Dane z autopsji.
Przedstawiono optyczną metodę określania zawartości monokryształów SiC w ścierniwie. Metoda opiera się na wykorzystaniu związku między wartością sumarycznej energii światła odbitego od powierzchni ścierniwa a zawartością monokryształów w ścierniwie. W wyniku przeprowadzonych badań stwierdzono praktyczną przydatność metody.
Materiały ścierne.
Węgliki.
Materiały konferencyjne.
621.9
Optyczna metoda określania zawartości monokryształów węglika krzemu w ścierniwie / Tatiana Łukianowicz, Mirosław Wiśniewski. - 1981.
Dane z autopsji.
Przedstawiono optyczną metodę określania zawartości monokryształów SiC w ścierniwie. Metoda opiera się na wykorzystaniu związku między wartością sumarycznej energii światła odbitego od powierzchni ścierniwa a zawartością monokryształów w ścierniwie. W wyniku przeprowadzonych badań stwierdzono praktyczną przydatność metody.
Materiały ścierne.
Węgliki.
Materiały konferencyjne.
621.9