High-accuracy surface topography measurements of abrasive tools using a 3D optical profiling system /
KAPŁONEK, Wojciech. Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji 2008 - .
High-accuracy surface topography measurements of abrasive tools using a 3D optical profiling system / Wojciech Kapłonek, Krzysztof Nadolny, Robert Tomkowski, Jan Valicek.
Precyzyjne pomiary topografii powierzchni narzędzi ściernych z wykorzystaniem optycznego systemu profilometrycznego
Dane z autopsji.
W pracy zaproponowano wykorzystanie optycznego systemu profilometrycznego Talysurf CLI 2000 firmy Taylor-Hobson Ltd. do precyzyjnych pomiarów topografii powierzchni ściernych. Dokonano krótkiej charakterystyki urządzenia oraz opisano jeden z trybów pomiarów wykorzystujący zjawisko abberacji chromatycznej.
Szlifowanie - narzędzia i maszyny.
Pomiary
621.791/.795
High-accuracy surface topography measurements of abrasive tools using a 3D optical profiling system / Wojciech Kapłonek, Krzysztof Nadolny, Robert Tomkowski, Jan Valicek.
Precyzyjne pomiary topografii powierzchni narzędzi ściernych z wykorzystaniem optycznego systemu profilometrycznego
Dane z autopsji.
W pracy zaproponowano wykorzystanie optycznego systemu profilometrycznego Talysurf CLI 2000 firmy Taylor-Hobson Ltd. do precyzyjnych pomiarów topografii powierzchni ściernych. Dokonano krótkiej charakterystyki urządzenia oraz opisano jeden z trybów pomiarów wykorzystujący zjawisko abberacji chromatycznej.
Szlifowanie - narzędzia i maszyny.
Pomiary
621.791/.795