Reflektometryczne pomiary nierówności powierzchni z wykorzystaniem techniki mikroprocesowej /
ŁUKIANOWICZ, Czesław. Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji 1973 - 1996.
Reflektometryczne pomiary nierówności powierzchni z wykorzystaniem techniki mikroprocesowej / Czesław Łukianowicz. - 1987.
Dane z autopsja\i.
W artykule opisano reflektometryczne pomiary nierówności powierzchni z wykorzystaniem techniki mikroprocesowej. Reflektometryczne metody pomiaru powierzchni opierają się na wykorzystaniu zjawiska kątowego rozpraszania światła przez powierzchnie chropowate.
Powierzchnia - pomiary.--pomiary.
Materiały konferencyjne.
621.791/.795 004.31
Reflektometryczne pomiary nierówności powierzchni z wykorzystaniem techniki mikroprocesowej / Czesław Łukianowicz. - 1987.
Dane z autopsja\i.
W artykule opisano reflektometryczne pomiary nierówności powierzchni z wykorzystaniem techniki mikroprocesowej. Reflektometryczne metody pomiaru powierzchni opierają się na wykorzystaniu zjawiska kątowego rozpraszania światła przez powierzchnie chropowate.
Powierzchnia - pomiary.--pomiary.
Materiały konferencyjne.
621.791/.795 004.31