Spectroscopy XPS as a tool of chemical composition measurement of surface layer = Spektroskopia XPS jako narzędzie do badań składu chemicznego warstwy wierzchniej /
WOJCIESZAK, Sylwester. Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Koło Naukowe "Inżynier"
Spectroscopy XPS as a tool of chemical composition measurement of surface layer = Spektroskopia XPS jako narzędzie do badań składu chemicznego warstwy wierzchniej / Sylwester Wojcieszak, Łukasz Jasiukajtis. - 2012.
Dane z autopsji.
W pracy przedstawiono znaną metodę wykorzystywaną do badań składu chemicznego warstwy wierzchniej - spektroskopia XPS. Podano charakterystykę tej metody oraz przedstawiono przykład badania i analiza jego wyników.
Spektroskopia.
Materiały konferencyjne.
543.42
Spectroscopy XPS as a tool of chemical composition measurement of surface layer = Spektroskopia XPS jako narzędzie do badań składu chemicznego warstwy wierzchniej / Sylwester Wojcieszak, Łukasz Jasiukajtis. - 2012.
Dane z autopsji.
W pracy przedstawiono znaną metodę wykorzystywaną do badań składu chemicznego warstwy wierzchniej - spektroskopia XPS. Podano charakterystykę tej metody oraz przedstawiono przykład badania i analiza jego wyników.
Spektroskopia.
Materiały konferencyjne.
543.42