Analiza widma fotonapięcia w krzemie przy krawędzi absorpcji /
Patryn, Aleksy Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Podstaw Elektroniki 1996 - .
Analiza widma fotonapięcia w krzemie przy krawędzi absorpcji / Grzegorz Ileczko, Aleksy Patryn.
Dane z autopsji.
W pracy przedstawiono analizę widma fotonapięcia powierzchniowego w krzemie w obszarze absorpcji pasmo-pasmo blisko jego krawędzi i wpływ rozbieżności pomiędzy widmem rzeczywistego i zastosowanego współczynnika absorpcji w modelu do wyznaczenia wartości długości drogi dyfuzji nośników ładunku L w półprzewodniku.
Optoelektronika.
Światło.
Absorpcja.
Materiały konferencyjne.
535.3
Analiza widma fotonapięcia w krzemie przy krawędzi absorpcji / Grzegorz Ileczko, Aleksy Patryn.
Dane z autopsji.
W pracy przedstawiono analizę widma fotonapięcia powierzchniowego w krzemie w obszarze absorpcji pasmo-pasmo blisko jego krawędzi i wpływ rozbieżności pomiędzy widmem rzeczywistego i zastosowanego współczynnika absorpcji w modelu do wyznaczenia wartości długości drogi dyfuzji nośników ładunku L w półprzewodniku.
Optoelektronika.
Światło.
Absorpcja.
Materiały konferencyjne.
535.3