Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Zastosowanie optycznej spektroskopii emisyjnej do kontroli procesu magnetronowego nanoszenia cienkich warstw TiN /

GULBIŃSKI, Witold. Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Fizyki 1996 - .

Zastosowanie optycznej spektroskopii emisyjnej do kontroli procesu magnetronowego nanoszenia cienkich warstw TiN / W. Gulbiński, R. Kazimierowicz, J. Staśkiewicz, B. Warcholiński.

Przedmiot publikacji - hasła tematyczne:
Spektroskopia.

Gatunek / forma:
Materiały konferencyjne.

Drukuj
Cytuj
Dodaj do koszyka (usuń)
Kod QR
Zapisz rekord
BIBTEX Dublin Core MARCXML MARC (non-Unicode/MARC-8) MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard) MODS (XML) RIS
Więcej wyszukiwań

Szukaj tytułu w:
Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) Open Library (openlibrary.org)