Photothermal examination of adhesion in semiconductor devices / (Rekord nr 29)
| 000 -ETYKIETA REKORDU | |
|---|---|
| podpole kontrolne o stałej długości | 00837naa a22001931i 4500 |
| 001 - NUMER KONTROLNY REKORDU | |
| podpole kontrolne | 29 |
| 003 - IDENTYFIKATOR NUMERU KONTROLNEGO REKORDU | |
| podpole kontrolne | KOSZ 005 |
| 005 - DATA OSTATNIEJ MODYFIKACJI REKORDU | |
| podpole kontrolne | 20180427115203.0 |
| 008 - POLE O STAŁEJ DŁUGOŚCI - DANE KONTROLNE | |
| podpole kontrolne o stałej długości | 151107s1998 USA n f |000 0eng d |
| 040 ## - ŹRÓDŁO KATALOGOWANIA | |
| Instytucja, która utworzyła rekord | BPK |
| Instytucja, która dokonała modyfikacji | KOSZ 005/ac |
| 041 ## - KOD JĘZYKA | |
| Kod języka tekstu | eng |
| 044 ## - KOD KRAJU WYDAWCY/PRODUCENTA | |
| Kod kraju wydawcy/producenta | USA |
| 100 1# - NAZWA OSOBOWA | |
| Nazwa osobowa | SUSZYŃSKI, Zbigniew. |
| Lata pracy | 1996 - . |
| Instytucja | Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, |
| Wydział | Katedra Elektroniki Ciała Stałego |
| 245 10 - TYTUŁ/ODPOWIEDZIALNOŚĆ | |
| Tytuł | Photothermal examination of adhesion in semiconductor devices / |
| Pozostałe elementy strefy tytułu i oznaczenia odpowiedzialności | Zbigniew Suszyński. |
| 500 ## - UWAGI OGÓLNE | |
| Tekst uwagi | Dane z bibliografii załącznikowej. |
| 500 ## - UWAGI OGÓLNE | |
| Tekst uwagi | sprawozdanie jednostki (Informator o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2002 roku Wydziału Elektroniki). |
| 773 0# - TYTUŁ DOKUMENTU MACIERZYSTEGO | |
| Wyrażenie wprowadzające | W : |
| Tytuł | IEEE Transactions on Components, Packaging, and Mamufacturing Technology : Part A. - |
| Informacje dotyczące relacji | 1998, Vol. 21, nr 3, s. 434-440 |
| 942 ## - HASŁO DODATKOWE - ELEMENTY(KOHA) | |
| Typ dokumentu | Artykuł |
| Schemat klasyfikacji | Uniwersalna klasyfikacja dziesiętna |
Brak dostępnych egzemplarzy.