Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Zjawiska termiczne w elementach i układach półprzewodnikowych / Włodzimierz Janke.

Autor:

JANKE, Włodzimierz. Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Wydział Mechaniczny, Zakład Elektroniki, 1990 - 1996

Rodzaj materiału: Tekst

TekstSzczegóły wydania: Warszawa : Wydaw. Naukowo-Techniczne, 1992.Opis: 259 s. : ilTematy:

Rodzaj/forma:

Podręczniki akademickie.

Streszczenie: W książce przedstawiono przegląd zjawisk termicznych w elementach i układach półprzewodnikowych. Rozważono zjawiska fizyczne determinujące zależność parametrów materiałów, elementów i układów półprzewodnikowych od temperatury. Podano reprezentatywne przykłady tych zależności z uwzględnieniem m.in. problemów niezawodności. Zwrócono szczególną uwagę na fizyczne pochodzenie wpływu temperatury na właściwości poszczególnych elementów, jego znaczenie praktyczne oraz sposoby uwzględniania w analizie i projektowaniu układów. Książka jest przeznaczona dla inżynierów konstruktorów aparatury elektronicznej oraz dla studentów wydziałów elektroniki.

Egzemplarze ( 1 )
Uwagi ( 2 )

Egzemplarze
Typ dokumentu	Obecna biblioteka	Sygnatura	Status	Termin zwrotu	Kod kreskowy
Książka	Bibliografia Prac Pracowników - BPK	P 43993 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej))	Nie można wypożyczyć

Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)

Wstecz								Dalej
Wstecz	P 41204 Pneumatyczne układy sterowniczo-napędowe /	P 41214 Podstawy organizacji procesu produkcyjnego /	P 41730 Zasady opracowania bilansu cieplnego pomieszczeń chłodni /	P 43993 Zjawiska termiczne w elementach i układach półprzewodnikowych /	P 44224 Liniowe elektroniczne układy analogowe /	P 44274 Materiały do projektowania procesów technologicznych. Cz. 3, Pomoce pomiarowe /	P 44275 Materiały do projektowania procesów technologicznych. Cz. 4, Uchwyty obróbkowe /	Dalej

Dane z autopsji.

W książce przedstawiono przegląd zjawisk termicznych w elementach i układach półprzewodnikowych. Rozważono zjawiska fizyczne determinujące zależność parametrów materiałów, elementów i układów półprzewodnikowych od temperatury. Podano reprezentatywne przykłady tych zależności z uwzględnieniem m.in. problemów niezawodności. Zwrócono szczególną uwagę na fizyczne pochodzenie wpływu temperatury na właściwości poszczególnych elementów, jego znaczenie praktyczne oraz sposoby uwzględniania w analizie i projektowaniu układów. Książka jest przeznaczona dla inżynierów konstruktorów aparatury elektronicznej oraz dla studentów wydziałów elektroniki.