Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Symulacja charakterystyk diod Schottky'ego z węglika krzemu, z uwzględnieniem efektów termicznych / Aneta Hapka, Włodzimierz Janke.

Autor:

HAPKA, Aneta. Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Systemów Elektronicznych, 2000 -

Współtwórca(-y):

JANKE, Włodzimierz. Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Systemów Elektronicznych, 1996 -

Rodzaj materiału:

ArtykułPraca zawiera:

Krajowa Konferencja Elektroniki (7 ; 2008 ; Darłowo, Polska). KKE'2008

Tematy:

Rodzaj/forma:

Materiały konferencyjne.

W: Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki : materiały konferencji. T. 1/2 / kom. red. Włodzimierz Janke, Maciej Bączek, Stefan Łuczak. - s. 41-46Streszczenie: O jakości wyników symulacji w dużej mierze decyduje dobór parametrów w modelach elementów, co zostanie pokazane w niniejszej pracy. Proponuje się również model dla symulatorów obwodowych, umożliwiający uwzględnienie wpływu samonagrzewania na charakterystyki statyczne.

Egzemplarze ( 1 )
Uwagi ( 2 )

Egzemplarze
Typ dokumentu	Obecna biblioteka	Sygnatura	Status	Termin zwrotu	Kod kreskowy
Rozdział	Bibliografia Prac Pracowników - BPK	91233 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej))	Nie można wypożyczyć

Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)

Wstecz								Dalej
Wstecz	91210 Monitorowanie procesu jednoprzejściowego szlifowania otworów z zastosowaniem sygnału emisji akustycznej /	91210 System diagnostyki i sterowania procesem jednoprzejściowego szlifowania otworów /	91210 Kierunki rozwoju jednoprzejściowego szlifowania otworów /	91233 Symulacja charakterystyk diod Schottky'ego z węglika krzemu, z uwzględnieniem efektów termicznych /	91233 Badanie prototypu cyfrowo sterowanej przetwornicy DC/DC z wykorzystaniem algorytmu "Bumblebee" /	91238 Logika rozmyta w diagnostyce urządzeń elektronicznych /	91238 Realizacja odczytu współrzędnych w specjalizowanym cyfrowym systemie predykcyjnym z wykorzystaniem reprogramowalnych układów cyfrowych /	Dalej

Dane z autopsji.

O jakości wyników symulacji w dużej mierze decyduje dobór parametrów w modelach elementów, co zostanie pokazane w niniejszej pracy. Proponuje się również model dla symulatorów obwodowych, umożliwiający uwzględnienie wpływu samonagrzewania na charakterystyki statyczne.