Optyczno-elektroniczny system kontrolno-pomiarowy do oceny mikrogeometrii powierzchni w ruchu / Czesław Łukianowicz, Tadeusz Karpiński, Tadeusz Hryniewicz, Tadeusz Kochaniewicz, Leon Charkiewicz, Krzysztof Szczepaniak.
Rodzaj materiału:
TekstSzczegóły wydania: Koszalin, 1996.Tematy: Streszczenie: Celem projektu badawczego było opracowanie systemu kontrolno-pomiarowego, przeznaczonego do oceny nierówności powierzchni metodą wykorzystującą zjawisko rozpraszania światła przez powierzchnie chropowate. Przedstawiono wyniki badań uzyskanych podczas zastosowania tego systemu do pomiarów nierówności powierzchni przedmiotów będących w ruchu.
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Sygnatura | Status | Termin zwrotu | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
Materiały nieopublikowane
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | NB-300 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)
Dane z autopsji.
Celem projektu badawczego było opracowanie systemu kontrolno-pomiarowego, przeznaczonego do oceny nierówności powierzchni metodą wykorzystującą zjawisko rozpraszania światła przez powierzchnie chropowate. Przedstawiono wyniki badań uzyskanych podczas zastosowania tego systemu do pomiarów nierówności powierzchni przedmiotów będących w ruchu.