Badanie charakterystyk termicznych tranzystorów mikrofalowych : rozprawa doktorska / Jarosław Kraśniewski ; Politechnika Koszalińska. Wydział Elektroniki i Informatyki.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: polski Szczegóły wydania: Koszalin : [s.n.], 2009.Opis: 143 strony : ilustracje ; 30 cm + 2 recenzje ; karta informacyjna o PBTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- Measurements of transient thermal characteristics of microwave transistors
- 430000
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Sygnatura | Status | Termin zwrotu | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
Rozprawa doktorska
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK Informatorium | RD 130 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Tylko na miejscu | 09040199 |
Lokalizacja półki: Informatorium Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)
Rozprawa doktorska. Politechnika Koszalińska. 2009.
Bibliografia na stronach 115-119.
Dostępne online na zasadzie licencji Creative Commons wersja BY-NC 4.0.
Praca zawiera podstawowe informacje o zagadnieniach związanych z oddziaływaniem elektrotermicznym na tranzystory oraz informacje o sposobach kompensacji temperatury wnętrza tranzystora; podstawowe informacje o obiektach badań i o uzyskanych w drodze pomiaru krzywych termicznych tranzystorów mikrofalowych; opis programu do obliczania przebiegów temperatury Tj (t) dla dowolnych pobudzeń mocą cieplną P(t) przy konkretnych warunkach chłodzenia wraz z przykładowymi wynikami.
Praca finansowana z rządowego projektu badawczego promotorskiego.