Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Imaging internal defects in thyristor structures / Robert Arsoba, Zbigniew Suszyński.

Autor:

Arsoba, Robert. Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Inżynierii Komputerowej, 1996 - [Autor]

Współtwórca(-y):

SUSZYŃSKI, Zbigniew. Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, Katedra Inżynierii Komputerowej, 1996 -

Rodzaj materiału:

ArtykułJęzyk: angielski Praca zawiera:

International Conference IMAPS-Poland 2007 (31 ; 2007 ; Rzeszów / Krasiczyn, Polska). IMAPS-POLAND 2007

Tematy:

Tyrystory

Rodzaj/forma:

Materiały konferencyjne.

W: XXXI International Conference IMAPS Poland 2007, Rzeszów - Krasiczyn 2007 : proceedings / ed. Jerzy Potencki, Dariusz Klepacki, Alicja Bednarczyk. - s. 241-244Streszczenie: The paper presents results of imaging internal defects in silicon-aluminium-molybdenum high-power thyristor structures. Different measuring techniques were used for imaging defects.

Egzemplarze ( 1 )
Uwagi ( 2 )

Egzemplarze
Typ dokumentu	Obecna biblioteka	Sygnatura	Status	Termin zwrotu	Kod kreskowy
Rozdział	Bibliografia Prac Pracowników - BPK	95495 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej))	Nie można wypożyczyć

Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)

Wstecz								Dalej
Wstecz	95484 System symulacji procesu kształtowania powierzchni podczas wygładzania podatnymi narzędziami ściernymi /	95484 Modelowanie przemieszczeń ziaren ściernicy o spoiwie poliuretanowym z uwzględnieniem wzajemnych oddziaływań /	95484 Wykorzystanie modelowania i symulacji komputerowej do projektowania ściernic o strefowo zróżnicowanej budowie /	95495 Imaging internal defects in thyristor structures /	95495 The analysis of thermalwave response of layered structure on varying excitation /	95495 Modeling of parasitic substrate couplings utilizing finite element method /	95501 Rola i znaczenie przedsiębiorstw społecznych na rynku pracy /	Dalej

Dane z autopsji.

The paper presents results of imaging internal defects in silicon-aluminium-molybdenum high-power thyristor structures. Different measuring techniques were used for imaging defects.