Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Modeling of parasitic substrate couplings utilizing finite element method / Fawwaz Alkhatib, Konstanty Gawrylczyk, Włodzimierz Janke, Piotr Pawłowski.

Autor:

JANKE, Włodzimierz. Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Systemów Elektronicznych, 1996 -

Współtwórca(-y):

PAWŁOWSKI, Piotr. Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, Katedra Systemów Elektronicznych, 1996 -

Rodzaj materiału:

ArtykułJęzyk: angielski Praca zawiera:

International Conference IMAPS-Poland 2007 (31 ; 2007 ; Rzeszów / Krasiczyn, Polska). IMAPS-POLAND 2007

Rodzaj/forma:

Materiały konferencyjne.

W: XXXI International Conference IMAPS Poland 2007, Rzeszów - Krasiczyn 2007 : proceedings / [ed. Jerzy Potencki, Dariusz Klepacki, Alicja Bednarczyk ; International Macroelectronics and Packaging Society]. - s. 387-390Streszczenie: The paper is addressed to simulation of parasitic couplings existing in modern integrated circuits, especially mixed analog-digital circuits and systems on chip (SOC). The resistive and capacitive couplings may be simulated numerically for assumed physical and geometrical parameters of the structure under considerations.

Egzemplarze ( 1 )
Uwagi ( 2 )

Egzemplarze
Typ dokumentu	Obecna biblioteka	Sygnatura	Status	Termin zwrotu	Kod kreskowy
Rozdział	Bibliografia Prac Pracowników - BPK	95495 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej))	Nie można wypożyczyć

Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)

Wstecz								Dalej
Wstecz	95484 Wykorzystanie modelowania i symulacji komputerowej do projektowania ściernic o strefowo zróżnicowanej budowie /	95495 Imaging internal defects in thyristor structures /	95495 The analysis of thermalwave response of layered structure on varying excitation /	95495 Modeling of parasitic substrate couplings utilizing finite element method /	95501 Rola i znaczenie przedsiębiorstw społecznych na rynku pracy /	95502 Kierunki rozwoju gospodarczego regionów peryferyjnych w aspekcie marketingu /	95503 Project driven manufacturing /	Dalej

Dane z autopsji.

The paper is addressed to simulation of parasitic couplings existing in modern integrated circuits, especially mixed analog-digital circuits and systems on chip (SOC). The resistive and capacitive couplings may be simulated numerically for assumed physical and geometrical parameters of the structure under considerations.