Automatyzacja pomiarów prototypowych układów scalonych / Henryk Budzisz, Robert Arsoba, Krzysztof Żytkiewicz.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 1999.Tematy:
W: Pomiary Automatyka Kontrola. - 1999, nr 2, s. 18-20Streszczenie: W pracy przedstawiono stanowisko do pomiaru charakterystyk i parametrów układów scalonych ze szczególnym nastawieniem na analogowe układy wykonane w technologii CMOS. Stanowisko przeznaczone jest do weryfikacji poprawności projektów nowych układów scalonych. Kolejność, rodzaj i parametry pomiarów ustawiane są przez polecenia, podobnie jak w symulatorze SPICE.
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Sygnatura | Status | Termin zwrotu | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 0275 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)
Dane z autopsji.
W pracy przedstawiono stanowisko do pomiaru charakterystyk i parametrów układów scalonych ze szczególnym nastawieniem na analogowe układy wykonane w technologii CMOS. Stanowisko przeznaczone jest do weryfikacji poprawności projektów nowych układów scalonych. Kolejność, rodzaj i parametry pomiarów ustawiane są przez polecenia, podobnie jak w symulatorze SPICE.