Analiza powierzchni ceramiki technicznej po precyzyjnym szlifowaniu z dosuwem nanometrycznym / Wojciech Musiał, Jarosław Plichta, Katarzyna Musiał.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 2008.Tematy:
W: Pomiary Automatyka Kontrola. - 2008, nr 4, s. 192-195Streszczenie: W artykule przedstawiono charakterystyki powierzchni ceramiki technicznej, otrzymanych po szlifowaniu w warunkach plastycznego płynięcia materiału obrabianego. Badania przeprowadzono na stanowisku zaprojektowanym w celu mikroszlifowania z dosuwem nanometrycznym.
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Sygnatura | Status | Termin zwrotu | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 0275 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)
Dane z autopsji.
W artykule przedstawiono charakterystyki powierzchni ceramiki technicznej, otrzymanych po szlifowaniu w warunkach plastycznego płynięcia materiału obrabianego. Badania przeprowadzono na stanowisku zaprojektowanym w celu mikroszlifowania z dosuwem nanometrycznym.