Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Zastosowanie skaningowej interferometrii w świetle białym do oceny topografii powierzchni / Czesław Łukianowicz.

Autor:

ŁUKIANOWICZ, Czesław. Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji, 1996 -

Rodzaj materiału:

ArtykułJęzyk: polski Język streszczenia: angielski Inny tytuł:

Use of white light scanning interferometry for assessment of surface topography

Tematy:

W: Pomiary Automatyka Kontrola 2010, nr 9, s. 1055-1058Streszczenie: W pracy sprawdzono możliwości stosowania skaningowej interferometrii w świetle białym do oceny topografii powierzchni wykonanych z różnych materiałów. W artykule opisano podstawy tej metody oraz wskazano na jej zalety i pewne ograniczenia.

Egzemplarze ( 1 )
Uwagi ( 2 )

Egzemplarze
Typ dokumentu	Obecna biblioteka	Sygnatura	Status	Termin zwrotu	Kod kreskowy
Artykuł	Bibliografia Prac Pracowników - BPK	0275 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej))	Nie można wypożyczyć

Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)

Wstecz								Dalej
Wstecz	0275 Analizator do pomiaru tekstury TMS-Pro - zasada działania i zastosowanie w badaniach produktów spożywczych = TMS-Pro - Texture Analyser - ruleof work and its employment in food research /	0275 Modelowanie procesów azotowania i PVD podwyższających trwałość narzędzi ze stali WCL = Modeling of and PVD processes improving the durability of X37CrMoV51 steel /	0275 Measurement of tool flank wear with the use of white light interferometer /	0275 Zastosowanie skaningowej interferometrii w świetle białym do oceny topografii powierzchni /	0275 Wskaźniki jakości procesu cięcia materiałów strugą wodno-ścierną = Quality indicators of abrasive water-jet cutting process /	0275 Analiza akustyczna małej pętli autobusowej = Acoustic analysis of small bus loop /	0275 Chromatograficzny pomiar całkowitego potencjału antyoksydacyjnego = Chromatographic measurement of total antioxidant potential /	Dalej

Dane z autopsji.

W pracy sprawdzono możliwości stosowania skaningowej interferometrii w świetle białym do oceny topografii powierzchni wykonanych z różnych materiałów. W artykule opisano podstawy tej metody oraz wskazano na jej zalety i pewne ograniczenia.