Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Komputerowy system wspomagania projektowania mechanizmów pomiarowych / Wojciech Tarnowski, Tadeusz Bil, Tomasz Kiczkowiak.

Autor:

TARNOWSKI, Wojciech. Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Wydział Mechaniczny, Zakład Maszyn Przemysłu Spożywczego, 1986 - 1996

Współtwórca(-y):

BIL, Tadeusz. Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Wydział Mechaniczny, Zakład Technologii Maszyn, 1974 - 1996
KICZKOWIAK, Tomasz. Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Wydział Mechaniczny, Zakład Maszyn Przemysłu Spożywczego, 1978 - 1996

Rodzaj materiału:

ArtykułSzczegóły wydania: 1989.Tematy:

Projektowanie - oprogramowanie

W: Metrologia i Systemy Pomiarowe. - 1989, Nr 2, s. 71-84Streszczenie: Celem pracy jest opracowanie komputerowego systemu wspomagania projektowania mechanizmów pomiarowych, uwzględniającego przede wszystkim ich właściwości metrologiczne i koszty. W szczególności w polu zainteresowań są mechanizmy, w których sygnałami wejściowymi i wyjściowymi są przesunięcia uogólnione.

Egzemplarze ( 1 )
Uwagi ( 2 )

Egzemplarze
Typ dokumentu	Obecna biblioteka	Sygnatura	Status	Termin zwrotu	Kod kreskowy
Artykuł	Bibliografia Prac Pracowników - BPK	01180 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej))	Nie można wypożyczyć

Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)

Wstecz								Dalej
Wstecz	01155 Polikrystaliczne cienkie warstwy jako fotoelektrody w ogniwach słonecznych /	01174 Oznaczenie stopnia świeżości pieczywa z dodatkiem lecytyny w proszku /	01180 Zależności między mikrogeometrią powierzchni i parametrami światła rozproszonego przy pomiarach fotometrycznych /	01180 Komputerowy system wspomagania projektowania mechanizmów pomiarowych /	01180 Estimation of surface roughness parameter based on machined surface image /	01180 Investigation on transient thermal characteristics of microwave transistors /	01180 Monitoring of a micro-smoothing process with the use of machined surface images /	Dalej

Dane z autopsji.

Celem pracy jest opracowanie komputerowego systemu wspomagania projektowania mechanizmów pomiarowych, uwzględniającego przede wszystkim ich właściwości metrologiczne i koszty. W szczególności w polu zainteresowań są mechanizmy, w których sygnałami wejściowymi i wyjściowymi są przesunięcia uogólnione.