Pomiary szybkich przebiegów termicznych w elementach półprzewodnikowych / Włodzimierz Janke, Jarosław Kraśniewski, Maciej Oleksy.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 2004.Tematy: Rodzaj/forma:
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki : materiały konferencji. T. 2/2. - Koszalin : Wyd. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004. - s. 577-582Streszczenie: W pracy przedstawiono wielozadaniowy system pomiarowy do badań szybkich charakterystyk termicznych elementów półprzewodnikowych. Umożliwia on badanie różnych typów elementów przy różnych typach pobudzeń. Na podstawie tych pomiarów i dodatkowego oprogramowania możliwa jest identyfikacja parametrów przejściowych charakterystyk termicznych. Przedstawione zostały również przykładowe wyniki pomiarów oraz parametrów identyfikowanych krzywych dla różnych typów elementów półprzewodnikowych, w różnych warunkach pracy.
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 72248 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
W pracy przedstawiono wielozadaniowy system pomiarowy do badań szybkich charakterystyk termicznych elementów półprzewodnikowych. Umożliwia on badanie różnych typów elementów przy różnych typach pobudzeń. Na podstawie tych pomiarów i dodatkowego oprogramowania możliwa jest identyfikacja parametrów przejściowych charakterystyk termicznych. Przedstawione zostały również przykładowe wyniki pomiarów oraz parametrów identyfikowanych krzywych dla różnych typów elementów półprzewodnikowych, w różnych warunkach pracy.