Charakterystyki termiczne diod Schottky'ego z węglika krzemu / Włodzimierz Janke, Macej Oleksy, Jarosław Kraśniewski.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 2005.Tematy: Rodzaj/forma:
W: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki : materiały konferencji. T. 2/2. - s. 613-614Streszczenie: Przedstawiono pomiary charakterystyk termicznych diod Schotty'ego wykonanych z SiC. Wykonano dwie grupy pomiarów - pierwsza to pomiary charakterystyk statycznych prądowo-napięciowych dla różnych temperatur otoczenia. Druga grupa to pomiary przejściowych charakterystyk termicznych.
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Sygnatura | Status | Termin zwrotu | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 77973 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
Przedstawiono pomiary charakterystyk termicznych diod Schotty'ego wykonanych z SiC. Wykonano dwie grupy pomiarów - pierwsza to pomiary charakterystyk statycznych prądowo-napięciowych dla różnych temperatur otoczenia. Druga grupa to pomiary przejściowych charakterystyk termicznych.