Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Urządzenie do pomiaru odporności właściwej półprzewodników metodą czterosondową / Jan Staśkiewicz, Andrzej Czyżniewski, Zbigniew Galocz.

Autor:

STAŚKIEWICZ, Jan. Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Instytut Inżynierii Materiałowej, Zakład Chemii Fizycznej, 1973 - 1996

Współtwórca(-y):

CZYŻNIEWSKI, Andrzej. Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Instytut Inżynierii Materiałowej, Zakład Fizyki Ciała Stałego, 1975 - 1996
GALOCZ, Zbigniew. Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Instytut Inżynierii Materiałowej, Zakład Fizyki Ciała Stałego, 1974 - 1983

Rodzaj materiału:

ArtykułSzczegóły wydania: 1979.Tematy:

W: Zeszyty Naukowe Wyższej Szkoły Inżynierskiej w Koszalinie. Prace Instytutu Inżynierii Materiałowej. - 1979, nr 3 [9], s. 187-198Streszczenie: W pracy opisano stanowisko do pomiaru oporności właściwej półprzewodników metodą czterosondową. Podano parametry urządzenia i przedstawiono rezultaty jego zastosowania do pomiaru rozkładu oporności właściwej cienkich warstw dwutlenku cyny domieszkowanej antymonem /Sn)[indeks dolny]2:Sb/.

Egzemplarze ( 1 )
Uwagi ( 2 )

Egzemplarze
Typ dokumentu	Obecna biblioteka	Sygnatura	Status	Termin zwrotu	Kod kreskowy
Artykuł	Bibliografia Prac Pracowników - BPK	0100 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej))	Nie można wypożyczyć

Dane z autopsji.

W pracy opisano stanowisko do pomiaru oporności właściwej półprzewodników metodą czterosondową. Podano parametry urządzenia i przedstawiono rezultaty jego zastosowania do pomiaru rozkładu oporności właściwej cienkich warstw dwutlenku cyny domieszkowanej antymonem /Sn)[indeks dolny]2:Sb/.