Ocena mikronierówności powierzchni na podstawie kątowego rozkładu natężenia światła rozproszonego = The surface microroughness assessment in base of decomposition light scattering intensity / Czesław Łukianowicz.
Rodzaj materiału:
ArtykułJęzyk: polski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: 1991.Tematy: Rodzaj/forma:
W: Metrologiczne problemy w technikach wytwarzania : materiały konferencyjne Koszalin-Mielno'91, 23-26 maja 1991 r. / [red. Bronisław Słowiński] ; Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie ; Centrum Uczelniano-Przemysłowe Metrologii i Systemów Pomiarowych Politechniki Warszawskiej. - s. 149-160Streszczenie: W pracy przedstawiono krótką charakterystykę metod oceny mikrogeometrii powierzchni opartych na pomiarze kątowego rozkładu światła rozproszonego. Opisano także opracowaną aparaturę przeznaczoną do oceny mikrogeometrii i przedstawiono wyniki badań uzyskane za pomocą tej aparatury.
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Sygnatura | Status | Termin zwrotu | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 36758 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
W pracy przedstawiono krótką charakterystykę metod oceny mikrogeometrii powierzchni opartych na pomiarze kątowego rozkładu światła rozproszonego. Opisano także opracowaną aparaturę przeznaczoną do oceny mikrogeometrii i przedstawiono wyniki badań uzyskane za pomocą tej aparatury.