TY  - BOOK
AU  - Dorywalski,Krzysztof
AU  - Patryn, Aleksy
AU  - Stapiński,Tomasz
AU  - Jaroszewicz,Leszek R.
ED  - Wydział Elektroniki i Informatyki (Politechnika Koszalińska).
TI  - System spektroskopii elipsometrycznej w zastosowaniu do badań własności  szerokopasmowych materiałów optoelektronicznych: rozprawa doktorska 
PY  - 2014///
CY  - Koszalin
PB  - [s.n.]
KW  - Elipsometria
KW  - Spektroskopia elipsometryczna
KW  - System elipsometryczny
KW  - Promieniowanie synchrotronowe
KW  - Własności optyczne
KW  - Materiały szerokopasmowe
KW  - Rozprawa doktorska
KW  - Inżynieria i technika
N1  - Rozprawa doktorska. Politechnika Koszalińska. 2014; Bibliografia na stronach 105-116; Dostępne online wszystkim użytkownikom bez ograniczeń, bez możliwości sporządzania kopii
N2  - Praca  poświęcona implementacji techniki spektroskopii elipsometrycznej  w zakresie widmowym światła widzialnego, nadfioletu i nadfioletu próżniowego VIS-UV-VUV do badań własności wybranych materiałów dla optoelektroniki
ER  -