01370naa a2200217 i 4500001000400000003000400004005001700008008003900025040000800064100013300072245012800205260001000333500012400343520034000467650002500807655003000832711007900862773018500941942001301126999001301139BPPBPK20180404131133.0140529s2001    pl a   f     |100 0      cBPK  aMACELUCH, Jerzy.d1996 - .bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki,cKatedra Elementów i Miernictwa Elektronicznego  aStanowisko do wielopunktowych pomiarów parametrów elektrycznych układów o stałych rozłożonych /cJerzy Maceluch.  c2001.  asprawozdanie jednostki (Informator o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2001 roku Wydziału Elektroniki).  aW pracy obok parametrów i właściwości stanowiska badawczego do wielopunktowych pomiarów parametrów elektrycznych układów o stałych rozłożonych, przedstawiono również możliwości zastosowania układu do wielopunktowych badań modeli oporowych wykorzystywanych w symulacyjnych badaniach elektro-tomograficznych.  aUkłady elektryczne. 0aMateriały konferencyjne.  aKrajowy Kongres Metrologiid(2001.06.24-26 ;cWarszawa, Polska).pKKM'2001  iW : tMetrologia u progu Trzeciego Millenium. Krajowy Kongres Metrologii. KKM 2001. Materiały kongresu, Warszawa, 24-27 czerwca 2001. -dWarszawa : BEL Studio, 2001. -gs. 623-626  cART2UKD  c140d140