TY  - SER
AU  - SUSZYŃSKI, Zbigniew.
TI  - Quality investigation of joint of bipolar transistor chip and lead frame by thermal wave method
PY  - 1997///
N1  - Dane z bibliografii załącznikowej; sprawozdanie jednostki (Informator o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2001 roku Wydziału Elektroniki)
ER  -