01974naa a2200277 i 4500 BPP BPK 20180508135457.0 151102s2001 pl f |100 0 eng BPK eng POL SUSZYŃSKI, Zbigniew. 1996 - . Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, Katedra Elektroniki Ciała Stałego Examination of collector current density distribution and detection of breakdown areas in power transistor / Zbigniew Suszyński, Piotr Majchrzak, Robert Arsoba. 2001. sprawozdanie jednostki (Informator o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2001 roku Wydziału Elektroniki). In this paper the IR mapping is used for the inspection of power transistor KT827B type. On the basis of amplitude and phase temperature images it is possible to observe such phenomena as concentrating of the variable component of collector current and areas of breakdown. The IR amplitude pictures give information about the distribution of dissipated power while the IR phase maps allow separating the electrical phenomena in time independently of its amplitude. The variable component of thermal fields gives more information and higher contrast then the constant one. Temperatura. Tranzystory. Materiały konferencyjne. MAJCHRZAK, Piotr. 1998 - . Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, Katedra Inżynierii Komputerowej ARSOBA, Robert. 1996 - . Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, Katedra Inżynierii Komputerowej International Conference IMAPS-Poland 2001 (25 ; 2001 ; Rzeszów / Polańczyk, Polska). W : 25 International Conference and Exhibition IMAPS–Poland 2001 : Rzeszów–Polańczyk 26–29 September 2001. - Rzeszów, 2001. - s. 99-102 ART UKD 180 180