SUSZYŃSKI, Zbigniew. Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, Katedra Elektroniki Ciała Stałego 1996 - creator MAJCHRZAK, Piotr. Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, Katedra Inżynierii Komputerowej 1998 - ARSOBA, Robert. Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, Katedra Inżynierii Komputerowej 1996 - International Conference IMAPS-Poland 2001 2001 ; Rzeszów / Polańczyk, Polska). text conference publication Materiały konferencyjne. pl 2001 monographic eng

print

In this paper the IR mapping is used for the inspection of power transistor KT827B type. On the basis of amplitude and phase temperature images it is possible to observe such phenomena as concentrating of the variable component of collector current and areas of breakdown. The IR amplitude pictures give information about the distribution of dissipated power while the IR phase maps allow separating the electrical phenomena in time independently of its amplitude. The variable component of thermal fields gives more information and higher contrast then the constant one. specialized Zbigniew Suszyński, Piotr Majchrzak, Robert Arsoba. sprawozdanie jednostki (Informator o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2001 roku Wydziału Elektroniki). Temperatura Tranzystory Rzeszów, 2001. - s. 99-102 151102 20180508135457.0 BPP