01948naa a2200277 i 4500001000400000003000400004005001700008008003900025040000800064041000800072044000800080100012600088245016800214260001000382500012400392520057600516650001701092650001701109655003001126700011901156700011701275711009701392773015501489942001301644999001301657BPPBPK20180508135457.0151102s2001    pl     f     |100 0 eng  cBPK  aeng  aPOL  aSUSZYŃSKI, Zbigniew.d1996 - .bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki,cKatedra Elektroniki Ciała Stałego  aExamination of collector current density distribution and detection of breakdown areas in power transistor /cZbigniew Suszyński, Piotr Majchrzak, Robert Arsoba.  c2001.  asprawozdanie jednostki (Informator o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2001 roku Wydziału Elektroniki).  aIn this paper the IR mapping is used for the inspection of power transistor KT827B type. On the basis of amplitude and phase temperature images it is possible to observe such phenomena as concentrating of the variable component of collector current and areas of breakdown. The IR amplitude pictures give information about the distribution of dissipated power while the IR phase maps allow separating the electrical phenomena in time independently of its amplitude. The variable component of thermal fields gives more information and higher contrast then the constant one. 0aTemperatura. 0aTranzystory. 0aMateriały konferencyjne.  aMAJCHRZAK, Piotr.d1998 - .bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki,cKatedra Inżynierii Komputerowej  aARSOBA, Robert.d1996 - .bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki,cKatedra Inżynierii Komputerowej  aInternational Conference IMAPS-Poland 2001n(25 ;d2001 ;cRzeszów / Polańczyk, Polska).0 iW :t25 International Conference and Exhibition IMAPS–Poland 2001 : Rzeszów–Polańczyk 26–29 September 2001. -dRzeszów, 2001. -gs. 99-102  cART2UKD  c180d180