02052nam a2200265 i 4500001000400000003000400004005001700008008003900025040000800064080001000072080000800082100013900090245024900229260002100478500002100499520074200520650001601262650002901278700014101307700013001448700014001578942001201718999001501730952004101745BPPBPK20190610114320.0140715s1978    pl     f     |000 0 pol  cBPK  a681.2  a535  aKARPIŃSKI, Tadeusz.d1970 - 1996.bWyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Instytut Budowy Maszyn,cZakład Technologii Maszyn  aZastosowanie metody fotometrycznej do oceny niektórych parametrów chropowatości oraz zdolności refleksyjnej powierzchni.nEtap 3,pKonstrukcja urządzenia /cTadeusz Karpiński, Czesław Łukianowicz, Marek Klim, Tatiana Łukianowicz.  aKoszalin,c1978.  aDane z autopsji.  aOpracowano fotometryczną metodę oceny chropowatości i zdolności refleksyjnej powierzchni. Metoda pozwala na wyznaczenie wartości odchylenia standardowego pochodnej profilu powierzchni w określonym kierunku oraz wartości współczynnika odbicia kierunkowego. Dla określonego rodzaju obróbki istnieje możliwość wyznaczenia parametru Ra. Opracowano dokumentacje konstrukcyjną i wykonano prototyp urządzenia realizującego metodę pomiaru. Metoda jest przydatna do oceny powierzchni dla których parametr Ra jest mniejszy od 0,4 um. Ponadto podano instrukcję obsługi urządzenia do pomiarów chropowatości i zdolności refleksyjnej powierzchni metodą fotometryczną. Cz. II sprawozdania z IV etapu. 0aFotometria. 0aInżynieria powierzchni  aŁUKIANOWICZ, Czesław.d1973 - 1996.bWyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Instytut Budowy Maszyn,cZakład Technologii Maszyn  aKLIM, Marek.d1973 - 1982.bWyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Instytut Budowy Maszyn,cZakład Technologii Maszyn  aŁUKIANOWICZ, Tatiana.d1973 - 1996.bWyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Instytut Budowy Maszyn,cZakład Technologii Maszyn  cMN2UKD  c1830d1830  00104070aBPKbBPKoNB-24/IIIayMN