<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<mods xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns="http://www.loc.gov/mods/v3" version="3.1" xsi:schemaLocation="http://www.loc.gov/mods/v3 http://www.loc.gov/standards/mods/v3/mods-3-1.xsd">
  <titleInfo>
    <title>Termofalowe metody badania materiałów i przyrządów elektronicznych</title>
  </titleInfo>
  <name type="personal">
    <namePart>SUSZYŃSKI, Zbigniew.</namePart>
    <namePart type="termsOfAddress">Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, Katedra Inżynierii Komputerowej</namePart>
    <namePart type="date">1996 -</namePart>
    <role>
      <roleTerm authority="marcrelator" type="text">creator</roleTerm>
    </role>
  </name>
  <typeOfResource>text</typeOfResource>
  <genre authority="marc">handbook</genre>
  <originInfo>
    <place>
      <placeTerm type="code" authority="marccountry">pl</placeTerm>
    </place>
    <place>
      <placeTerm type="text">Koszalin</placeTerm>
    </place>
    <publisher>Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej</publisher>
    <dateIssued>2001</dateIssued>
    <issuance>monographic</issuance>
  </originInfo>
  <language>
    <languageTerm authority="iso639-2b" type="code">pol</languageTerm>
  </language>
  <physicalDescription>
    <form authority="marcform">print</form>
    <extent>205 s. : il.</extent>
  </physicalDescription>
  <abstract>Praca poświęcona jest analizie możliwości zastosowania fal temperaturowych do pomiaru parametrów cieplnych ciał stałych i badania urządzeń elektronicznych. Składa się z pięciu zasadniczych części przedstawionych w ośmiu rozdziałach. W pierwszej części sklasyfikowano metody termofalowe oraz przedstawiono metody modelowania dynamicznych procesów cieplnych w oparciu o macierz transmintacyjną. Opracowano szereg modeli struktur warstwowych dla różnych wariantów pobudzenia energetycznego i rejestracji temperatury. Druga część obejmuje zagadnienia związane z termofalowymi pomiarami parametrów cieplnych ciał stałych, stosowanych w mikroelektronice. Kolejna część dotyczy termofalowego badania jakości adhezji w strukturach warstwowych. W przedostatniej części opisano możliwości fotoakustycznej wizualizacji obszarów utraty hermetyczności w tranzystorach dużej mocy. W ostatnim rozdziale pokazano możliwości wynikające z detekcji zmiennych pól temperaturowych w urządzeniach półprzewodnikowych zasilanych energią elektryczną. Monografia zawiera bibliografię.</abstract>
  <targetAudience authority="marctarget">specialized</targetAudience>
  <note type="statement of responsibility">Zbigniew Suszyński.</note>
  <note>Dane z autopsji.</note>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Półprzewodniki</topic>
  </subject>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Adhezja</topic>
  </subject>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Przewodnictwo cieplne</topic>
  </subject>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Termodyfuzja</topic>
  </subject>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Temperatura</topic>
  </subject>
  <subject authority="lcsh">
    <topic>Pomiary</topic>
  </subject>
  <classification authority="udc">621.382</classification>
  <classification authority="udc">536</classification>
  <classification authority="udc">539.6</classification>
  <relatedItem type="series">
    <titleInfo>
      <title>Monografia Wydziału Elektroniki / Politechnika Koszalińska ; nr 82</title>
    </titleInfo>
  </relatedItem>
  <recordInfo>
    <recordContentSource authority="marcorg"/>
    <recordCreationDate encoding="marc">140212</recordCreationDate>
    <recordChangeDate encoding="iso8601">20190610123911.0</recordChangeDate>
    <recordIdentifier source="KOSZ 005">2</recordIdentifier>
  </recordInfo>
</mods>
